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DQplus 18位深制冷光谱仪

简要描述:DQplus 18位深制冷光谱仪是一款基于深度制冷检测器的光谱仪,检测器采用制冷设计,具备出色的动态范围和信噪比。可搭配激光器、钨灯、氘灯等多种光源,搭建多样化光谱测量系统,目前已广泛应用于科研实验、工业检测、环境监测、材料分析、生物检测等多个场景。

  • 产品品牌:其他品牌
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2025-12-05
  • 访  问  量:60

详细介绍

品牌其他品牌应用领域综合

DQplus 18位深制冷光谱仪

DQplus 18位深制冷光谱仪

DQplus 18位深制冷光谱仪 

DQplus 是一款基于深度制冷检测器的光谱仪,检测器采用制冷设计,具备出色的动态范围和信噪比。可搭配激光器、钨灯、氘灯等多种光源,搭建多样化光谱测量系统,目前已广泛应用于科研实验、工业检测、环境监测、材料分析、生物检测等多个场景。

 

核心产品规格

关键配置

l    内置 - 25深度制冷面阵检测器,像元规格为 1024×64;

l    采用 C-T 光路设计,焦长 100mm,支持 300g/l、600g/l、900g/l、1200g/l 多种光栅配置;

l    可按需配置 10um、25um、50um、100um、200um 狭缝,实现不同分辨率需求;

l    内置长波通滤光片和二阶衍射滤光片,有效抑制杂散光,杂散光水平低于 0.3%;

l    配置 K-SMA905 光纤接口,提升光纤耦合效率和插拔一致性,可适配如海多芯密排集束光纤,光纤插拔强度一致性7%;

l    采用 18bit A/D 转换,动态范围33000:1,信噪比1100:1;

l    配备 USB、串口多种通讯接口及 24PIN 交互接口,内置专有 DAC 和 ADC,可实现配套光源的使能、强度控制及功率反馈;

l    内置多个传感器,软件可实时监控光学结构和检测器内部温度。

详细参数表

参数类别

具体指标

型号

DQPlus

AD 采样

18bit

CCD 读出噪声(最小积分时间,均方根)

≤12

动态范围(最小积分时间,(饱和值 - 暗噪基线)/CCD 读出噪声标准差)

33000:1

信噪比(参照如海企业标准)

1100:1

检测器积分时间

8ms-30 min

采集模式

单次、连续、软件触发、同步外触发、异步复位外触发

响应线性度(校准前)

≥98%

光纤接口

Key-SMA905

检测器像元数

1024x58 pixels

杂散光

<0.3%

光纤插拔一致性

≤7%

数据接口

USB2.0RS232

扩展功能接口

24PIN

重量

1.24kg

尺寸

181x111.5x55 mm

工作温度

0℃~40℃

工作湿度

20%-85%

预定制产品规格

型号

光谱范围(nm

光谱分辨率(nm

起始波长 - 截止波长

10um

25um

50um

DQPlus-350-1100

350-1100

-

1.60

2.20

DQPlus-795-1030

795-1030

-

0.60

-

DQPlus-790-930

790-930

-

0.50

0.80

DQPlus-535-625

535-625

-

0.25

0.35

DQPlus-200-970

200-970

1.30

1.80

2.20

DQPlus-650-800

650-800

0.30

-

-

定制说明

l    光谱实际分辨率不高于标值的 120%;

l    可根据客户需求定制光谱范围、分辨率等核心参数。

 

主要应用领域

农业领域:日光诱导叶绿素荧光检测

通过检测植物荧光信号(SIF),评估光合作用效率和生产力,广泛应用于生态监测、农业评估、气候变化研究、作物生长监测、植被遥感等场景。可为碳循环、能量平衡研究,以及气候变化和生态保护提供重要数据支持,帮助研究人员评估作物生长、预测产量,监测环境胁迫影响。

DQplus 18位深制冷光谱仪 

DQplus 18位深制冷光谱仪 

太阳辐射和草地反射光谱

新能源领域:太阳能电池量子效率测量

测量太阳能电池外量子效率(EQE)、内量子效率(IQE)、光谱响应度、光致发光量子效率(PLQE)等关键参数,为太阳能电池研发和质量控制提供技术支撑。

DQplus 18位深制冷光谱仪 

DQplus 18位深制冷光谱仪 

盐胁迫下 SIF 产率谱图

DQplus 18位深制冷光谱仪 

珠宝检测:宝石透过率 / 反射率测量

分析蓝宝石、红宝石等刚玉矿物的吸收谱线,凭借不同产地或深浅宝石的谱线差异,实现宝石产地来源判定。蓝宝石的透过率光谱存在 Fe³⁺引起的 450nm 处粗吸收带,且延伸至红外区。

DQplus 18位深制冷光谱仪 

半导体制造:等离子体刻蚀终点检测

基于光学发射光谱法(OES),实时监测等离子体温度、密度、化学成分变化,识别有害成分,优化蚀刻工艺参数,确保蚀刻工艺的稳定性、一致性及蚀刻效率和质量,且不会对刻蚀过程产生扰动。

DQplus 18位深制冷光谱仪 

 

材料分析:拉曼光谱检测

作为便携式拉曼光谱仪的核心组成部件,常规支持 785nm 和 532nm 激发配置,可用于化学品鉴别、分子结构表征、成键效果分析、样品环境及内部应力分布研究,尤其适用于碳材料(如石墨烯)的精准表征。

DQplus 18位深制冷光谱仪 

(a) 单层石墨烯;(b)双层石墨烯;(c)少层石墨

DQplus 18位深制冷光谱仪 

 

 

 

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